ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑ ΛΕΙΖΕΡ ΣΤΗ ΣΥΝΤΗΡΗΣΗ ΕΡΓΩΝ ΤΕΧΝΗΣ ΚΑΙ ΑΡΧΑΙΟΤΗΤΩΝ: ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ ΔΙΑΓΝΩΣΗΣ ΚΑΙ ΑΠΟΚΑΤΑΣΤΑΣΗΣ

Υπάρχουν τρεις μεγάλες κατηγορίες εφαρμογών των λέιζερ στη συντήρηση κι αποκατάσταση έργων τέχνης και αρχαιοτήτων. Αυτές περιλαμβάνουν

α) Αναλυτικές εφαρμογές για την εύρεση της σύστασης των υλικών που συνιστούν το έργο, επιφανειακών ρύπων ή και χημικών αλλοιώσεων που έχουν συντελεστεί. Διάφοροι τύποι φασματοσκοπίας με λέιζερ όπως Φασματοσκοπία Πλάσματος (LIBS), Φθορισμού (LIF), Raman και Φασματοσκοπία Μάζας είναι οι βασικές τεχνικές που έχουν αναπτυχθεί για το σκοπό αυτό [1].

β) Συμβολομετρικές τεχνικές για τη διάγνωση μικροσκοπικών δομικών ατελειών ή βλαβών στον κύριο όγκο του έργου [2] και

γ) Εφαρμογές αποκατάστασης όπως ο καθαρισμός από ρύπους που επηρεάζουν την αισθητική αξία του έργου ή επιβαρύνουν τη διάρκεια ζωής του [2, 3].

Εφαρμογές που εμπίπτουν στις δύο πρώτες κατηγορίες είναι κατά κύριο λόγο μη καταστρεπτικές και είναι δυνατόν να χρησιμοποιηθούν επί τόπου (in situ) και σε πραγματικό χρόνο (on-line), σε συνδυασμό με επεμβάσεις αποκατάστασης. Αυτό επιτρέπει το πλήρη έλεγχο π.χ. τεχνικών καθαρισμού, ώστε να εξασφαλίζεται η διαφύλαξη από πιθανές αστοχίες.

Οι εφαρμογές καθαρισμού είναι επεμβατικές και η επιτυχής εφαρμογή τους προϋποθέτει καλή γνώση της δομής κάθε έργου και των πιθανών άμεσων ή μακροπρόθεσμων φυσικοχημικών αλλοιώσεων που μπορεί να επέλθουν κατά την αλληλεπίδραση της ακτινοβολίας με το υπόστρωμα.

Θα παρουσιασθούν πρόσφατες ερευνητικές προσεγγίσεις που έχουν γίνει για το σκοπό αυτό με στόχο τη βελτιστοποίηση των παραμέτρων των λέιζερ που επιλέγονται καθώς και αντιπροσωπευτικά παραδείγματα εφαρμογών ανάλυσης και καθαρισμού.

Αναφορές

[1] D. Anglos, "Laser-Induced Breakdown Spectroscopy in Art and Archaeology", Focal Point article in Appl. Spectrosc. 55, pp. 186A-205A, 2001.
[2] V. Tornari, V. Zafiropulos, A. Bonarou, N.A. Vainos, C. Fotakis, "Modern technology in artwork conservation: a laser-based approach for process control and evaluation", J. Opt. and Lasers in Engineering 34, pp. 309-326, 2000.
[3] A. Athanassiou, E. Andreou, D. Anglos, S. Georgiou, C. Fotakis "UV laser ablation of halonaphthalene-doped PMMA: chemical modificaitons above versus below and ablation threshold", Appl. Phys. A 69, S285-S289, 1999.

Ομιλητής: Κ. Φωτάκης, Ίδρυμα Τεχνολογίας και Έρευνας (ΙΤΕ), Ινστιτούτο Ηλεκτρονικής Δομής και Λέιζερ, και Πανεπιστήμιο Κρήτης, Φυσικό Τμήμα Τ.Θ. 1527, Βασιλικά Βουτών, 711 10 Ηράκλειο, Κρήτης Τηλ.: +30-810-301316, Fax: +30-810-391318, e-mail: fotakis@iesl.forth.gr
Ώρα: Δευτέρα, 16 Φεβρουαρίου 2004, 13:00